蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(CMM)是用于準(zhǔn)確測(cè)量物體在三維空間中尺寸和形狀的高精度測(cè)量設(shè)備。通過(guò)測(cè)量頭對(duì)物體進(jìn)行掃描和采樣，將采樣數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為三維坐標(biāo)系中的點(diǎn)云數(shù)據(jù)。然后利用數(shù)學(xué)算法計(jì)算出物體的尺寸和形狀。
其運(yùn)動(dòng)由電子控制系統(tǒng)控制，確保測(cè)量探針能夠準(zhǔn)確移動(dòng)到要求位置，從而提高測(cè)量的精度和重復(fù)性；計(jì)算機(jī)處理測(cè)得的點(diǎn)的坐標(biāo)數(shù)值，擬合形成測(cè)量元素，如圓、球、圓柱等，通過(guò)數(shù)學(xué)計(jì)算得出其形狀、位置公差及其他幾何量數(shù)據(jù)；在現(xiàn)代制造業(yè)中非常重要，它們廣泛應(yīng)用于汽車、航空航天、模具制造等行業(yè)，用于質(zhì)量控制和產(chǎn)品開(kāi)發(fā)過(guò)程中的精密測(cè)量。
目前使用的蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)有多種類型，包括橋式、龍門式、水平臂式和便攜式等。測(cè)量方式主要分為接觸式和非接觸式兩種，不同的類型和應(yīng)用場(chǎng)合可能需要不同的測(cè)量方式；在模具制造中，如果型芯型腔與導(dǎo)柱導(dǎo)套的匹配出現(xiàn)偏差，可以通過(guò)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)找出偏差值并進(jìn)行糾正，確保模具的準(zhǔn)確度和產(chǎn)品質(zhì)量。
在進(jìn)行測(cè)量前，需要啟動(dòng)測(cè)量機(jī)并進(jìn)行必要的設(shè)置，然后將被測(cè)物體放置在測(cè)量空間內(nèi)，通過(guò)傳感器獲取各測(cè)點(diǎn)的坐標(biāo)值，采用小二乘法或其他計(jì)算方法，計(jì)算出被測(cè)物體的幾何尺寸和形狀誤差；具有可作三個(gè)方向移動(dòng)的探測(cè)器，能夠在一個(gè)六面體的空間范圍內(nèi)表現(xiàn)幾何形狀、長(zhǎng)度及圓周分度等測(cè)量能力的儀器。
蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量方式主要有兩種：接觸式和非接觸式。
-接觸式測(cè)量：是傳統(tǒng)的測(cè)量方式，它使用一個(gè)觸摸探頭來(lái)直接接觸被測(cè)物體的表面。探頭感受物理觸碰并記錄下接觸點(diǎn)的坐標(biāo)，這些點(diǎn)的數(shù)據(jù)隨后被用來(lái)計(jì)算物體的幾何尺寸和形狀。接觸式測(cè)量精度高，但速度相對(duì)較慢，且可能對(duì)柔軟或易變形的材料表面造成損傷。
-非接觸式測(cè)量：采用光學(xué)或其他傳感技術(shù)，如激光或攝像系統(tǒng)，來(lái)捕捉物體表面的點(diǎn)云數(shù)據(jù)，而無(wú)需實(shí)際接觸物體。這種方式適合于測(cè)量復(fù)雜形狀或易受損的表面，測(cè)量速度快，但可能受到表面反射性質(zhì)的影響。
